工作原理：介質壓力直接作用於陶瓷膜片，正常的壓力使膜片偏移0.025mm,超壓狀態也隻使膜片偏移0.1mm，此時測量膜片貼到了陶瓷支架上，避免了損壞。膜片位移產生的電容量，由與其直接連接的電子部件檢測、放大和轉換為標準信號。

技術特點：采用先進的電子陶瓷技術、無中介液的幹式壓力測量技術、厚膜電子技術、SMT技術和PFM信號傳輸技術。抗衝擊能力強，過壓可達量程的數倍至百倍；穩定性高，每年優於0.1%，可與智能表相媲美。

技術數據：

測量範圍

l       相對壓力：最大0~40MPa，最小0~1KPa

l       絕對壓力：最大0~40MPa，最小0~10KPa

l       負相對壓力：最大－0.1 MPa ~＋2.4MPa，最小－2 KPa ~＋2KPa

允許溫度

l         環境溫度：－30~＋70℃

l         介質溫度：－30~＋80℃（短時可達130℃）

l         貯存溫度：－40~＋85℃

溫度影響

l         －20~＋70℃　0.15%/10K

l         －30~－20℃　0.2%/10K

精度

l         線性度：±0.2%或±0.5%

l         遲滯：　優於0.01/滿量程

l         穩定性：每年優於0.1%

l         安裝位置的影響：任意安裝對零點無影響。

工作電壓

l         12.5~ 36VDC

過程連接

外螺紋：G1/2A或M20×1.5